为什么 MATS 是 L4 的入场券
没有 MATS，"显存坏了"就只是一个猜测。有了 MATS，它就是一份诊断报告。
MATS 能告诉你：
- 显存有没有错
- 错了多少个（严重程度）
- 具体是哪个 bank / row / column / bit 出错
- 结合映射表 → 具体是哪一颗颗粒
一、MATS 是什么
MATS（Memory Artifact Testing System）是 NVIDIA 内部使用的显存测试工具，后来在维修社区流传。MODS 是社区改进版，支持更多核心型号和更详细的输出。
| 特性 | MATS | MODS |
|---|---|---|
| 支持范围 | 较老的核心 | 覆盖更广，GP104/GP102/TU116/GA104 等 |
| 输出详细度 | 基础 | 更详细，含更多地址信息 |
| 运行环境 | DOS | DOS |
| 是否需要特定版本 | 是 | 是（按核心选版本） |
为什么必须在 DOS 下运行？ 因为它需要直接访问显存物理地址，绕过操作系统和驱动的抽象层。Windows 下做不到这一点。
二、准备工作
硬件
① 一个 U 盘（做成 DOS 启动盘）
② 一台能工作的电脑（用核显或其他显卡出图）
③ 目标显卡插在主板上（可以用 PCIe 延长线，便于操作）
④ 因为目标卡不显示，必须用另一张卡出图软件
① DOS 启动盘（Rufus + FreeDOS，或用现成的维修 U 盘镜像）
② 对应你显卡核心的 MATS/MODS 版本
⚠️ 版本必须匹配核心！不同核心需要不同的 MATS 版本
③ 版本通常在维修社区按核心分类提供制作启动盘
① 用 Rufus 把 U 盘做成 FreeDOS 启动盘
② 把 MATS 程序文件拷入 U 盘根目录
③ 记录你的显卡在系统里的 PCI 位置（通常是 01:00.0，即 bus 1）MATS 版本与核心的对应是硬性要求。用错版本会：
- 直接报错无法运行
- 或者运行了但读不到显存，给出无意义的结果
正确做法：先确认你的核心型号（GPU-Z 或芯片丝印），再去维修社区找对应版本的 MATS。
三、运行 MATS
基本命令
mats -e 10 &rem 测试 10 遍（-e = extended/endless，遍数）
mats -e 30 &rem 测试 30 遍，更严格
mats --help &rem 查看所有参数
mats -n 0 &rem 测试第 0 号 GPU关键参数
| 参数 | 含义 |
|---|---|
-e N | 测试 N 遍 |
-n N | 指定测试哪块 GPU（多卡时用） |
-b N | 指定起始地址 |
-m N | 指定显存大小 |
-s N | 指定测试模式 |
具体参数以你使用的版本为准（不同版本参数略有不同）。
四、读懂 MATS 输出
无错误的情况
MATS version X.XX
...
Test passed. No errors found.含义：显存在当前测试条件下没有错误 → 显存基本是好的。
有错误的情况
典型输出（格式因版本而异）：
Error: 0x00000000 Bank 03 Row 0x1A2B Col 0x038 Bit 21
Error: 0x00000000 Bank 03 Row 0x1A2B Col 0x039 Bit 21
Error: 0x00000000 Bank 03 Row 0x1A2C Col 0x038 Bit 21
...
Total errors: 128关键信息：
| 字段 | 含义 | 用途 |
|---|---|---|
| Bit | 出错的数据位（0～31 或更多） | 最重要：定位到具体颗粒 |
| Bank | 显存内部的 bank 编号 | 缩小地址范围 |
| Row / Col | 行地址 / 列地址 | 定位具体存储单元 |
| 错误数量 | 错误总数 | 判断严重程度 |
| 错误分布 | 集中在少数 bit 还是分散 | 判断是颗粒问题还是通路问题 |
五、从 bit 到具体颗粒
原理
一颗 32bit 的 GDDR6 颗粒，负责 32 个数据位。但并不是简单地"第 1 颗负责 bit 0-31"——实际映射关系取决于：
- 核心的显存控制器设计
- PCB 的走线方式（bit 可能交错分配到多颗颗粒）
- 显存是单面还是双面
三种定位方法
方法 1：查映射表（最快）
维修社区整理了主流型号的 "bit ↔ 颗粒位置" 映射表。查到型号 → 查出错的 bit → 得到颗粒编号。
方法 2：实物对照（推荐给新手）
① 看 PCB 上显存颗粒的位置（编号 U1～U8 或类似）
② 用"排除法"验证：
a. 把怀疑的两颗颗粒互换位置
b. 重跑 MATS
c. 报错的 bit 跟着走 → 是颗粒坏
d. 报错的 bit 位置不变 → 是走线/焊点坏方法 3：局部加热/加压测试
① 用热风枪低温（80～100℃）局部加热某颗颗粒
② 观察 MATS 错误数量是否变化
③ 错误数量剧增 → 该颗粒有虚焊（热膨胀让它更松）
④ 错误数量减少 → 该颗粒也有问题（热让接触变好）"互换测试"是最可靠的定位方法，因为不依赖任何映射表。
代价是：需要拆焊两颗颗粒（有风险），所以适合已经确定要换颗粒的情况。
六、错误模式的解读（重要）
| 错误模式 | 可能原因 | 处理 |
|---|---|---|
| 单一 bit 大量错误 | 该 bit 对应的颗粒或走线有问题 | 定位到颗粒，检查虚焊 → 换颗粒 |
| 多个 bit 同时出错（同一颗粒范围） | 该颗粒整体不良 | 换该颗粒 |
| 所有 bit 都出错 | 显存供电问题 / 核心显存控制器问题 | 先查 MSVDD 和 VPP 电压 |
| 错误数量随温度升高剧增 | 虚焊（热膨胀导致接触不良） | 补焊或换颗粒 |
| 错误数量随机、无规律 | 供电纹波大 / 时序不稳 | 查输出电容、降频测试 |
| 低频无错，高频才错 | 颗粒老化（时序余量不足） | 降频可用，但需换颗粒根治 |
| 特定 Bank/Row 范围出错 | 该地址区域的存储单元坏 | 换对应颗粒 |
真实案例：MATS 定位到具体颗粒
现象：RTX 3060 Ti 花屏，固定位置的竖线。
MATS 输出（1 遍）：
Bit 24: 342 errors
Bit 25: 339 errors
Bit 26: 12 errors
Total: 693 errors分析：
- 错误集中在 bit 24、25（连续两位）
- 连续 bit 通常属于同一颗颗粒
- 查映射表 → bit 24-31 属于 U4 位置的颗粒
处理：
- 目视 U4 颗粒：焊点有轻微的环形裂纹（显微镜下）。
- 先尝试补焊（热风枪局部加热让它重熔）→ 重跑 MATS：仍有 300+ 错误。
- 说明颗粒本身已损坏，需更换。
- 拆下 U4（BGA 拆焊）→ 植球/换新颗粒 → 回焊。
- 重跑 MATS 20 遍：无错误。
- FurMark 1 小时 + 3DMark 稳定。
结论：MATS 的价值在于"把 8 颗颗粒的可能性缩小到 1 颗"。
七、没有 MATS 时的替代方案
| 工具 | 能力 | 局限 |
|---|---|---|
| OCCT VRAM 测试 | Windows 下运行，报错误数量 | 不报具体位置 |
| TestMem5 / VMT | 辅助验证 | 同样不报位置 |
| 逐颗量测法 | 量每颗颗粒的供电和信号 | 只能发现明显故障 |
| 互换测试 | 不依赖工具，直接定位 | 需要拆焊，有风险 |
| 降频测试 | 判断是否为时序余量问题 | 只能定性 |
八、实测流程模板
【准备】
□ 确认核心型号：____________
□ 下载匹配的 MATS 版本：____________
□ 制作 DOS 启动 U 盘
□ 显卡插主板，用另一张卡出图（或用核显）
□ 记录 PCI 位置：____________
【测试】
□ 运行 mats -e 10
□ 记录错误数量和 bit 分布
□ 如果错误很多 → 用 -e 1 快速迭代（每次修改后快速验证）
【定位】
□ 分析错误 bit → 查映射表
□ 确定目标颗粒编号：____________
【修复】
□ 先尝试补焊（虚焊比颗粒坏更常见且成本低）
□ 重测 MATS
□ 补焊无效 → 换颗粒
□ 换后重测 MATS（-e 30 更严格）
【验证】
□ MATS 无错误
□ FurMark 30 分钟
□ 3DMark 跑分接近基准
□ 温度正常MATS 的局限要清楚：
- MATS 测的是显存，不测核心、供电、显示引擎。
- MATS 通过不代表显卡完全没问题（可能供电在高负载下才暴露）。
- MATS 报错不一定非要换颗粒：虚焊、供电不稳、时序问题都可能报错。
- 先用最低成本的手段验证（补焊、降频、查供电），再考虑换颗粒。